제품설명
MODEL
CA-210
본기는 기존 CA-110의 후속 모델로 LCD, EL등의 생산 라인에서 실시간으로 디스플레이 장치의 휘도, 색도 등을 검사할 수 있습니다.
더욱 세밀해진 교정작업과 저휘도 측정을 바탕으로 신뢰성이 향상되었으며, RS-232C와 함께 GP-IB 대신 USB 인터페이스의 채용으로 자동화에 대한 대응이 좀 더 손쉬워졌습니다.
주요 용도
PDP 생산라인의 휘도, 색도, White balance, Uniformity 검사
EL 생산라인의 휘도, 색도, White balance, Uniformity 검사
주요특징
≫수광부에 대해서 기존의 White 교정에 R, G, B 단색교정이 추가되면서 정밀도 향상
≫0.1cd/㎡의 저휘도 측정이 가능하여 감마 특성 및 조정에 적당
≫Memory channel이 100개까지 확장
≫측정시간 최대 20회/초 로 단축
≫옵션 사항이었던 White balance 측정기능이 기본 내장
≫USB 인터페이스 추가
≫Flickering 측정가능
≫측정거리 단축 및 측정각 축소로 정밀도 향상
≫미소면 측정용 수광부(Φ10mm) 추가(option)
≫CA-SDK(Software Development Kit)를 이용 구동 프로그램을 용이하게 구축
주요 사양
수광부 silicon photo cell
측정면적 Φ27mm
측정각 ±2.5°
측정거리 30±10mm
휘도 측정범위 0.05 to 999.9cd/㎡
정밀도 ±2%±1digit
재현성 0.10 to 0.99cd/㎡ 0.2%+1digit
1.00 to 999.9cd/㎡ 0.1%+1digit
색도 정밀도 0.10 to 4.99cd/㎡ ±0.005
5.00 to 19.99cd/㎡ ±0.004
20.00 to 999.9cd/㎡ ±0.003
160cd/㎡ ±0.002
재현성 0.10 to 0.19cd/㎡ 0.010
0.20 to 0.49cd/㎡ 0.005
0.50 to 0.99cd/㎡ 0.002
1.00 to 999.9cd/㎡ 0.001
flicker contrast method 측정범위 5cd/㎡ or higher
표시범위 0.0 to 100.0%
정밀도 ±1% 30Hz, ±2% 60Hz
재현성 ±1%
flicker JEITA 측정범위 5cd/㎡ or higher
method 정밀도 ±0.5% 30Hz
재현성 0.3 30Hz
측정속도 xyLv 0.10 to 1.99cd/㎡ 5 times/sec
2cd/㎡ or higher 20 times/sec
flicker contrast 16 times/sec
flicker JEITA 0.5 times/sec
측정항목 digital xyLv, TΔuvLv, RGB analyze, XYZ, uvLv, flicker
analog Δx, Δy, ΔLv, R/G, B/G, ΔG, ΔR, B/R, G/R, flicker
SYNC mode NTSC, PAL, EXT, UNIV, INT
측정 동기 신호 40 to 200Hz (flicker : 40 to 130Hz)
데이터 저장 100 channel
인터페이스 USB, RS-232C
multi-point 측정 max. 5 points
*상태양호
**만원
* 구로
* 010-3778-0143
